该方法只考虑了温度和相对湿度的影响。它不试图模拟由于复杂的失效机制动力学而导致的退化，也不测试在处理或回放子系统中的变化时是否暴露于光腐蚀性气体污染物中。磁盘暴露在这些额外的应力源或更高的温度和相对湿度水平下，预计将经历更短的使用寿命。
而且似乎温度和湿度也是恒定的，没有测试变化的情况
【 在 tsa300 @ [DigiHome] 的大作中提到: 】
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: ISO/IEC 16963
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: 要测各种温度、湿度、光照特别是紫外线下的老化试验，推算数据保持时间
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#发自zSMTH@V2337A
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