你这个是本身的缺陷，没有考虑环境改变啊，比如不在消费级芯片适宜的温度环境下，这个数量会变大很多。
【 在 kartanus 的大作中提到: 】
: 以下引自百度AI检索：
: 车规级芯片需通过AEC-Q100认证，缺陷率控制在≤10 DPPM（百万分之十），并满足ISO 26262功能安全标准，支持多重冗余设计和故障容错机制。消费级芯片缺陷率允许≤500 DPPM（百万分之五百），仅需符合JEDEC标准。
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