- 主题:IddQ静态漏电流测试，现在一般是怎样做的？
是以片内跑pattern为主？还是片外测试为主，会测试detla Iddq吗？
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FROM 123.123.108.*
新工艺下似乎已经不测这个了，我说的是16nm及以下
【 在 long2004 的大作中提到: 】
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: 是以片内跑pattern为主？还是片外测试为主，会测试detla Iddq吗？
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发自「今日水木 on V1936AL」
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FROM 183.194.175.*
您好！我是芯片应用人员，国内芯片厂还在用Iddq值。我想了解一下，是怎样测试Iddq的？为何不测试ΔIddq，这样会更便于控制质量。
【 在 aeroing 的大作中提到: 】
: 新工艺下似乎已经不测这个了，我说的是16nm及以下
: 发自「今日水木 on V1936AL」
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FROM 106.37.187.*
跑pattern 也可以 软件配置状态也可以 其实就是在测漏电。 具体产品看测试需求
【 在 long2004 的大作中提到: 】
: 您好！我是芯片应用人员，国内芯片厂还在用Iddq值。我想了解一下，是怎样测试Iddq的？为何不测试ΔIddq，这样会更便于控制质量。
: 【 在 aeroing 的大作中提到: 】
: : 新工艺下似乎已经不测这个了，我说的是16nm及以下
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FROM 111.196.247.*