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主题:外行请教一个半导体问题
楼主
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nicer123456
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2024-12-05 09:39:04
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老外的半导体探测器结构图 有什么办法分析出这里掺杂的参数,结的深度等各种和工艺相关的参数吗?
纯外行,希望各位批评指正
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修改:nicer123456 FROM 64.62.252.*
FROM 64.62.252.*
1楼
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yeludaoge
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2024-12-05 10:14:17
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FIB,成分分析
胜科
【 在 nicer123456 的大作中提到: 】
: [upload=1][/upload]
: 老外的半导体探测器结构图 有什么办法分析出这里掺杂的参数,结的深度等各种和工艺相关的参数吗?
: 纯外行,希望各位批评指正
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FROM 120.244.236.*
2楼
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lxku
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2024-12-05 12:00:29
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只看此ID
半导体工艺参数分析,你可以去做,但不要完全依赖。
这些参数极为敏感,偏一点点做出来管子的性能就完全不一样。
每次看到有外行去搞这个,我就知道你们几年内都会在瞎摸
【 在 nicer123456 的大作中提到: 】
: [upload=1][/upload]
: 老外的半导体探测器结构图 有什么办法分析出这里掺杂的参数,结的深度等各种和工艺相关的参数吗?
: 纯外行,希望各位批评指正
: ...................
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修改:lxku FROM 114.242.9.*
FROM 114.242.9.*
3楼
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Matshaw
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2024-12-05 14:43:29
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只看此ID
那能怎么办,切开一点点定量分析吧
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FROM 119.119.44.*
4楼
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ericking0
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2024-12-05 19:23:56
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早些年的时候,大致的PN掺杂之类的可以通过染结之类的方法来分析,但是要想定量弄
出掺杂浓度,然后反向推测出工艺流程和工艺菜单,我觉得不太靠谱;
怎么说呢,我觉得这样反向还原出工艺比正向开发工艺还麻烦很多;
【 在 nicer123456 的大作中提到: 】
: [upload=1][/upload]
: 老外的半导体探测器结构图 有什么办法分析出这里掺杂的参数,结的深度等各种和工艺相关的参数吗?
: 纯外行,希望各位批评指正
: ...................
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FROM 222.209.24.*
5楼
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lxku
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2024-12-05 19:31:55
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只看此ID
如果不能高薪挖来做这个的老师傅,我劝你们就不要干了,摸索几年不如人家来指一下。
【 在 Matshaw 的大作中提到: 】
: 那能怎么办,切开一点点定量分析吧
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FROM 61.49.248.*
6楼
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maxwell2017
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2024-12-06 08:10:44
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工艺这类东西,你反向很难
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FROM 120.219.119.*
7楼
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huluo2020
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2024-12-08 08:28:32
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热探针法
【 在 nicer123456 的大作中提到: 】
: [upload=1][/upload]
: 老外的半导体探测器结构图 有什么办法分析出这里掺杂的参数,结的深度等各种和工艺相关的参数吗?
: 纯外行,希望各位批评指正
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FROM 101.241.70.*
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