我自己做的实验已经包含了读出噪声。依然可以每个pixel单个电子数。
至于非均匀性，如果说明书里量子效率没问题的话，我的需求是确定信号是cmos上集中在一小块区域一起预估计5个pixel左右，而随机热噪声167分之一，即便响应不均匀，或者区域内某些pixel效率低一些，比如丢了40%，那还剩3个在一起，而随机平均167个pixel才1个噪声电子出现，还是区分信号和噪声不成问题。
至少目前探测器相机不觉得是多大问题，我这关键还是镜头能不能实现。现在看来常规镜头大概率不行，得考虑一定的非近轴成像光学等，我先自己学习一些这方面基本知识，然后再请专门设计镜头的折腾折腾看看吧。另外，本来想一步到位，做直径20多cm以上的，现在看来不行，还是先考虑比较成熟10cm以内，看看行不行，实验加工造价低不少。基本上得实验，改进几次...。
【 在 palebluedot 的大作中提到: 】
: 你这个应用得上APD阵列吧，你即使用科学级cmos估计也不行，用cmos噪声除了暗电流主要考虑读出噪声和响应非均匀性。
:
: #发自zSMTH-v-@VOG-AL00
--
FROM 120.198.56.*