所谓“加速测试”， 用高温高压等测试条件测试芯片时间，然后建一个模型，推算出正常工作状态下的寿命。
【 在 ia 的大作中提到: 】
: 这种封存200年还能打火的车，一般是怎么测试的？  
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发自「今日水木 on 22041211AC」
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