侧重点必然不同。
例如芯片的寿命老化测试，会施加极端测试环境（例如极限电压和极温）连续测试例如1000h，然后转换推算其寿命。
而AECQ104对应的模块寿命老化测试我记得远远小于1000小时。



【 在 yuandao888 的大作中提到: 】
: 所以我就很奇怪：如果消费级芯片设计寿命要求是3-5年，放到一个板子里怎么就成为10年以上设计寿命了，这是不可能的
: 所以100和104的侧重点应该是不一样的。
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