首先device 都在base, 单测metal 意义不大.
其次,想测你也没那么细的针

【 在 mount 的大作中提到: 】
: 谢谢，可以等base layer做出来以后，单独测试base layer，然后metal layer做出来以后，单独测试metal layer吗？
: 这样，分别单独测试，可能有助于查找问题啊。
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