无法完全消除，可以在一定程度上降低这种风险。
【 在 west 的大作中提到: 】
: 即便是降低可用电量、降低充放电功率，也无法解决锂枝晶内部刺穿电芯的几率啊
:
: 【 在 FHWYSH (FHWYSHLMTPVDKQNRXCEZ) 的大作中提到: 】
: ...................
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