- 主题:消费级芯片设计寿命
烧都烧了，无法验证。
就跟自燃从字典里去掉一样。
【 在 senyu2 的大作中提到: 】
: 那是烧主板或者虚焊啥的，cpu坏了是非常罕见的
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FROM 124.127.200.*
能维修咋会没法验证呢，既然上来发帖有啥信息就说，没有不能胡说
【 在 yuandao888 的大作中提到: 】
: 烧都烧了，无法验证。
: 就跟自燃从字典里去掉一样。
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FROM 223.104.41.*
车都烧成壳子了，怎么验证？
【 在 senyu2 的大作中提到: 】
: 能维修咋会没法验证呢，既然上来发帖有啥信息就说，没有不能胡说
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FROM 124.127.200.*
侧重点必然不同。
例如芯片的寿命老化测试，会施加极端测试环境（例如极限电压和极温）连续测试例如1000h，然后转换推算其寿命。
而AECQ104对应的模块寿命老化测试我记得远远小于1000小时。
【 在 yuandao888 的大作中提到: 】
: 所以我就很奇怪：如果消费级芯片设计寿命要求是3-5年，放到一个板子里怎么就成为10年以上设计寿命了，这是不可能的
: 所以100和104的侧重点应该是不一样的。
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FROM 101.90.48.*
因为模块或者PCB上有很多器件，
有一些是SoC，有一些是电阻电容，或者LED等。
不同器件的电子特性不一样，对应车规的标准也不同。
所以在模块的角度，按照水桶效应，只会从宽而不会从严。
另外模块的AECQ测试更关注整体而非个体，所以测试有严格的顺序流程。
因为不同个体的耐受度不同，顺序乱了，就会影响测试结果。
以模块过了AECQ104为依据，反推里面的个体都符合ACEQ，是明显的逻辑错误。
【 在 KrkicBojan 的大作中提到: 】
: 侧重点必然不同。
: 例如芯片的寿命老化测试，会施加极端测试环境（例如极限电压和极温）连续测试例如1000h，然后转换推算其寿命。
: 而AECQ104对应的模块寿命老化测试我记得远远小于1000小时。
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FROM 101.90.48.*
哨兵这种应用越来越普及，车机芯片也是24小时运行
【 在 S030371 的大作中提到: 】
: 娱乐中心的芯片而已，真坏了换一块不就行了，而且大概率不会坏，因为手机是16小时在刷，车也就开2小时
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发自「今日水木 on SM-G9910」
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FROM 101.90.39.*
双芯片设计，就算娱乐芯片出问题了，能有什么影响
【 在 xglchong 的大作中提到: 】
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: 赶上体质不行的芯片 环境不好1分钟都坚持不了
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: 【 在 S030371 的大作中提到: 】
: : 娱乐中心的芯片而已，真坏了换一块不就行了，而且大概率不会坏，因为手机是16小时在刷，车也就开2小时
#发自zSMTH@2410DPN6CC
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FROM 1.80.184.*
首先我们讨论的是，可不可靠，容不容易失效。
然后再讨论失效会不会对安全的产生威胁。
对于汽车行业来说，要求车规是出于经济型和安全性的综合考虑。
由于更恶劣的工况，即便是非安全考量，采用消费级也会增加失效和召回的风险，进而产生更多的改善和纠正的成本。
所以如果不是出于特别的原因，例如找不到合适的车规产品替代却又必须进行相应性能的配置，或者仅仅是出于美化自己的“性能优势”，亦或者为了降低成本，不然没有理由选择非车规产品。
【 在 Mannone 的大作中提到: 】
: 双芯片设计，就算娱乐芯片出问题了，能有什么影响
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: #发自zSMTH@2410DPN6CC
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FROM 124.79.93.*
EM和tsmc有关系，也有部分没关系
取决于设计、验证
物理设计的时候会考虑EM
【 在 ambrain 的大作中提到: 】
: 太小看tsmc了吧
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FROM 61.169.21.*
如车规级芯片无非是力热学环境筛选更苛刻而已，如果骁龙芯片也能通过相应的条件检测和筛选，两个有什么区别呢
【 在 KrkicBojan @ [GreenAuto] 的大作中提到: 】
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: 首先我们讨论的是，可不可靠，容不容易失效。
: 然后再讨论失效会不会对安全的产生威胁。
: 对于汽车行业来说，要求车规是出于经济型和安全性的综合考虑。
: 由于更恶劣的工况，即便是非安全考量，采用消费级也会增加失效和召回的风险，进而产生更多的改善和纠正的成本。
#发自zSMTH@2410DPN6CC
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FROM 1.80.184.*